
IEEE Electron Device Letters(简称《EDL》)是电子器件领域的顶级快速发表期刊,专注于新型电子器件、工艺技术及性能突破的短篇通信,涵盖半导体器件、纳米电子学、功率器件、光电器件及传感器,
我们基于期刊官网的投稿指南,并更新了2025年最新的影响因子,希望为您的投稿提供支持。
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期刊主页:https://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=55
期刊简介
EDL由IEEE Electron Devices Society主办,创刊于1980年,致力于发表电子器件领域的高质量短篇通信,主题包括新型半导体器件(如MOSFET、FinFET)、纳米电子学、功率器件(如IGBT、SiC)、光电器件(如LED、激光器)、传感器、存储器及柔性电子器件。文章需具创新性、科学严谨性及对器件技术或性能的显著贡献,适合电子工程、材料科学及半导体行业的专业人士。期刊以快速发表著称,初审平均4-6周(官网数据)。作为混合出版期刊,作者可选择传统订阅模式或开放获取(OA)。
期刊相关信息:
- 影响因子:4.5(2024年)
- 中科院分区:2区(工程技术)3区(工程:电子与电气)
- 出版费用:开放获取费用(APC)为2,645美元(2025年IEEE标准,官网数据);订阅模式无APC。
- 出版频率:月刊(每年12期,官网数据)。
- 开放获取:混合出版,可选择OA或订阅模式。
投稿注意事项
- 文章长度:严格限制为3页(双栏,含图表和参考文献),特殊情况可达4页,需编辑批准并支付超页费(220美元/页)。
- Cover letter:需提交,说明研究的创新性、技术突破及适合《EDL》的理由,突出对器件性能的贡献及为何适合短篇通信。
- 初始投稿格式:需使用IEEE双栏模板(Word或LaTeX),初稿提交PDF,图表嵌入正文。
- 数据可用性:鼓励公开数据,建议存放在IEEE DataPort或公共存储库(如figshare、Zenodo)并提供DOI。
- 代码可用性:涉及器件建模或仿真的需提供代码(如GitHub链接)或补充材料。
- 预印本政策:接受在arXiv等预印本服务器发布的稿件,需在投稿时声明。
- 审稿周期:初审约4-6周,采用单盲评审,至少两位审稿人。
- 出版费用减免:开放获取文章的无资助研究可申请APC减免,投稿后联系IEEE出版办公室(openaccess@ieee.org)。
- 开放获取选项:作者可选择开放获取(需支付APC)或订阅模式(无APC)。
- 彩图费用:订阅模式下,彩图每页175美元;开放获取文章无彩图费用。
- 投稿限制:仅允许一轮修订,拒绝后需编辑许可方可重新提交。
- 语言润色:建议使用IEEE推荐的AJE(American Journal Experts)服务,润色证明可随稿件提交。
- 扩展论文:不接受基于会议论文的扩展,需为原创短篇通信。
- 伦理要求:涉及人类或动物实验的需提供伦理委员会批准编号,遵循《赫尔辛基宣言》或动物伦理指南。
- 器件特有要求:需明确器件参数(如阈值电压、载流子迁移率)、工艺条件及测试环境(如温度、频率)。
文章类型
《EDL》主要发表以下类型文章:
- Letter:短篇通信(≤3页),报告电子器件的原创研究或技术突破。
- Comment:对已发表文章的评论或更正(≤1页),需编辑批准。
- Correction:更正已发表文章,需编辑批准。
投稿需通过Manuscript Central提交,所有文章均为短篇,无Regular Paper或Survey Paper。
文章结构
一篇典型的Letter包括以下部分,每部分附简短英文示例:
- 标题:简洁、描述性,突出器件主题,最大15字。
示例:
2D MoS2 Transistor Performance - 作者信息:列出所有作者的姓名、单位、电子邮件及ORCID。
示例:
Department of Electrical Engineering, MIT, Cambridge, MA, USA
Alice Wang, Bob Chen
Semiconductor Lab, KAIST, Daejeon, South Korea
Min-Jae Kim - 贡献声明:明确每位共同作者的贡献,遵循IEEE标准。
示例:
A.W. fabricated the device; B.C. performed measurements; M.-J.K. wrote the manuscript. - 通信作者:指定通信作者,提供电子邮件及ORCID。
示例:
Correspondence to: Min-Jae Kim (minjae.kim@kaist.ac.kr) - 摘要:概述研究背景、方法、结果和意义,最大150字,无参考文献。
示例:
A MoS2 transistor achieves 100 cm²/V·s mobility. Tests at 300 K show low leakage. Data at Zenodo (10.5281/zenodo.123456). This enhances 2D electronics. - 关键词:提供3-5个关键词,便于检索。
示例:
MoS2, 2D materials, transistor, mobility - 引言:简要介绍研究背景、问题及目标,需包含参考文献。
示例:
2D transistors face mobility limits [1]. MoS2 shows promise [2]. This letter demonstrates a high-performance device. - 正文:简洁描述方法、实验、结果及讨论,突出器件性能,可不分节。
示例:
The MoS2 transistor uses a 5 nm film (figure 1). Mobility reaches 100 cm²/V·s at 10 V [3]. - 结论:总结关键发现,强调器件贡献。
示例:
Conclusion:
The MoS2 device offers high mobility. Future work targets gate scaling. - 参考文献:列出3-10个引用文献(详见第6节)。
示例:
[1] T. Zhang et al., “2D transistors,” IEEE Electron Device Lett., vol. 45, no. 9, pp. 123-125, Sep. 2024. - 致谢(可选):感谢资助机构或个人,包含资助编号。
示例:
Funded by NSF grant ECCS-1234567. We thank the MIT NanoLab. - 作者简介:简述作者背景、教育经历及研究兴趣,附照片(可选)。
示例:
Alice Wang received the Ph.D. degree from MIT in 2022. Her research focuses on 2D devices. - 伦理声明:包括利益冲突声明及伦理合规(如适用)。
示例:
Competing interests: The authors declare no competing interests.
Ethics approval: Not applicable. - 数据可用性:提供数据存储库名称和访问编号。
示例:
Data at Zenodo: https://doi.org/10.5281/zenodo.123456 - 补充材料(可选):提供额外数据、代码或视频。
示例:
Supplementary Data S1: Device measurement datasets.
格式要求
《EDL》要求初稿使用IEEE双栏模板(Word或LaTeX),严格3页,修订稿需符合出版规范。以下是具体要求:
字体和字号
- 正文:Times New Roman,10号字,单倍行距。
- 一级标题:粗体,11号字,首字母大写。
- 二级标题:粗体,10号字,首字母大写。
- 图表标题:粗体,8号字。
页面布局
- 使用 A4或Letter纸张,双栏排版。
- 页边距:上2.5厘米,下1.9厘米,左右1.6厘米。
- 行距:单倍行距,段前段后0点间距。
图表格式
- 图表嵌入正文,初稿为PDF,修订稿需单独上传高分辨率文件。
- 图表标题置于下方,Times New Roman,8号字,居中。
- 图表文字:8号字,确保清晰。
- 图表分辨率:至少300 DPI,推荐格式为TIFF、EPS或高分辨率JPEG。
- 颜色选择:支持彩色,建议高对比度(如蓝/黄),避免红绿。
- 图例:每幅图说明不超过100字,置于图下方。
- 版权:需获得受版权保护的图表许可,提交许可文件。
- 示例:
Figure 1: Device performance.
a I-V curve (blue: MoS2; red: baseline). b Mobility vs. voltage.
公式与术语
- 公式居中,右对齐编号,如 (1),文中称为“equation (1)”。
- 术语遵循IEEE及器件标准(如“carrier mobility”而非 “charge mobility”)。
- 示例:
(1) I = q·n·v·A
表格
- 表格嵌入正文,包含标题和图例,置于页面顶部或底部。
- 大型表格作为补充材料(如Excel)。
参考文献格式
《EDL》要求使用IEEE引用风格,按文中出现顺序编号,文中以方括号引用(如 [1])。参考文献需准确,建议3-10条,优先引用期刊文章。以下是示例:
- 期刊文章:
[1] T. Zhang, S. Li, et al., “2D transistors,” IEEE Electron Device Lett., vol. 45, no. 9, pp. 123-125, Sep. 2024. - 会议论文:
[2] A. Wang and B. Chen, “MoS2 devices,” in Proc. IEEE Int. Electron Devices Meeting, San Francisco, CA, USA, Dec. 2024, pp. 10-11. - 书籍:
[3] S. Sze, Physics of Semiconductor Devices, 4th ed., Hoboken, NJ, USA: Wiley, 2021. - 数据集:
[4] A. Wang and M.-J. Kim, “Device dataset,” Zenodo, 2024. [Online]. Available: https://doi.org/10.5281/zenodo.123456 - 预印本:
[5] B. Chen and M.-J. Kim, “2D device advances,” arXiv:2401.12345, Jan. 2024. [Online]. Available: https://arxiv.org/abs/2401.12345
伦理声明
- 利益冲突:需声明所有作者的利益冲突(如“无利益冲突”)。
- 伦理合规:涉及人类或动物实验的需提供伦理委员会批准编号,遵循《赫尔辛基宣言》或动物伦理指南。
- 数据可用性:需声明数据存储库及访问方式。
- 代码可用性:需提供代码存储库或补充材料。
- 示例:
Competing interests: The authors declare no competing interests.
Ethics approval: Not applicable.
Data availability: Data at Zenodo: https://doi.org/10.5281/zenodo.123456.
Code availability: Code at GitHub: https://github.com/MoS2Device.
补充材料
- 补充材料作为单独文件提交,格式为PDF、Excel、MP4(H.264编码,16:9)或ZIP.
- 包含大型数据集、代码或视频,无额外费用。
- 示例:
Supplementary Data S1: Device measurement datasets.
投稿流程
作者需通过Manuscript Central提交论文。流程如下:
- 注册并关联ORCID,指定通信作者(需符合IEEE作者标准)。
- 上传IEEE模板稿件(PDF)、cover letter、图表(嵌入PDF)及补充材料。
- 提供利益冲突声明、数据/代码可用性声明及伦理声明。
- 提交推荐审稿人(可选,2-3人,需提供姓名、邮箱及理由)。
- 在Manuscript Central跟踪审稿状态,初审约4-6周。
- 修订稿需提交:修改稿(Word/LaTeX)、审稿回复(逐点回应)、高分辨率图表。
- 可联系编辑部(edl-eic@ieee.org)查询状态或申请APC减免(开放获取文章)。
最后
IEEE Electron Device Letters 作为电子器件领域的快速发表的期刊,投稿需兼顾创新性、技术突破及对器件性能的显著贡献。我们系统解析了从标题到补充材料的规范,配以英文示例,希望为您的投稿提供坚实支持。