IEEE Transactions on Electron Devices论文格式模板和投稿要求

IEEE Transactions on Electron Devices(简称《TED》)是电子器件领域的权威期刊,聚焦电子器件的设计、制造、物理机制及应用,涵盖半导体器件、纳米电子学、功率器件、光电器件、传感器及柔性电子。

更新于2025年6月19日

IEEE Transactions on Electron Devices论文格式模板和投稿要求

IEEE Transactions on Electron Devices(简称《TED》)是电子器件领域的权威期刊,聚焦电子器件的设计、制造、物理机制及应用,涵盖半导体器件、纳米电子学、功率器件、光电器件、传感器及柔性电子。

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IEEE Transactions on Electron Devices官网截图

期刊主页https://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=16

期刊简介

《TED》由IEEE Electron Devices Society主办,创刊于1954年,致力于发表电子器件领域的高质量研究,主题包括半导体器件(如MOSFET、HEMT)、纳米电子学、功率器件(如SiC、GaN)、光电器件(如光伏、LED)、传感器、存储器、柔性电子及量子器件。文章需具创新性、科学严谨性及对器件技术或应用的实际价值,适合电子工程、材料科学及半导体行业的专业人士。期刊采用严格的同行评审,初审平均8-12周(官网数据)。作为混合出版期刊,作者可选择传统订阅模式或开放获取(OA)。

期刊相关信息

  • 影响因子:3.2(2025年)
  • 中科院分区:3区(工程技术-工程:电子与电气-物理:应用)
  • 出版费用:开放获取费用(APC)为2,645美元(2025年IEEE标准,官网数据);订阅模式无APC。
  • 出版频率:月刊(每年12期,官网数据)。
  • 开放获取:混合出版,可选择OA或订阅模式。

投稿注意事项

  • 文章长度:建议6-10页(双栏),含图表和参考文献;超过10页需支付超页费(220美元/页)。
  • Cover letter:需提交,说明研究的创新性、技术贡献及适合《TED》的理由,突出对器件技术或应用的贡献。
  • 初始投稿格式:需使用IEEE双栏模板(Word或LaTeX),初稿提交PDF,图表嵌入正文。
  • 数据可用性:鼓励公开数据,建议存放在IEEE DataPort或公共存储库(如figshare、Zenodo)并提供DOI。
  • 代码可用性:涉及器件建模或仿真的需提供代码(如GitHub链接)或补充材料。
  • 预印本政策:接受在arXiv等预印本服务器发布的稿件,需在投稿时声明。
  • 审稿周期:初审约8-12周,采用单盲评审,至少三位审稿人。
  • 出版费用减免:开放获取文章的无资助研究可申请APC减免,投稿后联系IEEE出版办公室(openaccess@ieee.org)。
  • 开放获取选项:作者可选择开放获取(需支付APC)或订阅模式(无APC)。
  • 彩图费用:订阅模式下,彩图每页175美元;开放获取文章无彩图费用。
  • 投稿限制:允许一轮主要修订和一轮次要修订,拒绝后需编辑许可方可重新提交。
  • 语言润色:建议使用IEEE推荐的AJE(American Journal Experts)服务,润色证明可随稿件提交。
  • 扩展论文:如基于会议论文扩展,需新增至少30%内容,并提交原会议论文供审查。
  • 伦理要求:涉及人类或动物实验的需提供伦理委员会批准编号,遵循《赫尔辛基宣言》或动物伦理指南。
  • 器件特有要求:需明确器件参数(如功耗、响应时间)、工艺条件(如退火温度)及测试环境(如真空、频率范围)。

文章类型

《TED》主要发表以下类型文章:

  • Regular Paper:完整研究文章(6-10页),报告电子器件的原创研究。
  • Short Paper:简短研究报告(≤4页),聚焦新颖技术或初步结果。
  • Review Paper:综述某一器件技术专题(6-10页),需具广泛参考价值,通常由编辑邀请。
  • Comment:对已发表文章的评论或更正(≤2页),需编辑批准。
  • Correction:更正已发表文章,需编辑批准。

投稿需通过Manuscript Central提交,Review Paper需先联系编辑(ted-eic@ieee.org)。

文章结构

一篇典型的Regular Paper包括以下部分,每部分附简短英文示例:

  • 标题:简洁、描述性,突出器件主题,最大15字。
    示例
    GaN HEMT for High-Power Applications
  • 作者信息:列出所有作者的姓名、单位、电子邮件及ORCID。
    示例
    Department of Electrical Engineering, UC Berkeley, Berkeley, CA, USA
    Emma Liu, James Carter
    Power Electronics Lab, ETH Zurich, Zurich, Switzerland
    Anna Schmidt
  • 贡献声明:明确每位共同作者的贡献,遵循IEEE标准。
    示例
    E.L. designed the device; J.C. performed simulations; A.S. wrote the manuscript.
  • 通信作者:指定通信作者,提供电子邮件及ORCID。
    示例
    Correspondence to: Anna Schmidt (anna.schmidt@ethz.ch)
  • 摘要:概述研究背景、方法、结果和意义,最大250字,无参考文献。
    示例
    A GaN HEMT achieves 95% efficiency at 100 W. Tests at 1 GHz show low losses. Code at GitHub (https://github.com/GaNHEMT). Data at Zenodo (10.5281/zenodo.123456). This advances power electronics.
  • 关键词:提供3-8个关键词,便于检索。
    示例
    GaN, HEMT, power electronics, efficiency
  • 引言:介绍研究背景、问题及目标,需包含参考文献。
    示例
    High-power applications demand efficient devices [1]. GaN HEMTs offer solutions [2]. This paper proposes a novel design.
  • 正文:分节描述方法、实验、结果和讨论,使用子标题。
    示例
    Device Fabrication
    The HEMT uses a 2 μm GaN layer (figure 1) [3].
  • 结论:总结关键发现,提出应用或未来方向。
    示例
    Conclusion
    The HEMT enhances efficiency. Future work will explore higher frequencies.
  • 参考文献:列出所有引用文献(详见第6节)。
    示例
    [1] R. Patel et al., “GaN power devices,” IEEE Trans. Electron Devices, vol. 71, no. 8, pp. 123-134, Aug. 2024.
  • 致谢(可选):感谢资助机构或个人,包含资助编号。
    示例
    Funded by DARPA grant HR0011-1234567. We thank the UC Berkeley FabLab.
  • 作者简介:简述作者背景、教育经历及研究兴趣,附照片(可选)。
    示例
    Emma Liu received the Ph.D. degree from UC Berkeley in 2022. Her research focuses on power devices.
  • 伦理声明:包括利益冲突声明及伦理合规(如适用)。
    示例
    Competing interests: The authors declare no competing interests.
    Ethics approval: Not applicable.
  • 数据可用性:提供数据存储库名称和访问编号。
    示例
    Data at Zenodo: https://doi.org/10.5281/zenodo.123456
  • 补充材料(可选):提供额外数据、代码或视频。
    示例
    Supplementary Video S1: Device test demo.
    Supplementary Data S1: Performance datasets.

格式要求

《TED》要求初稿使用IEEE双栏模板(Word or LaTeX),建议6-10页,修订稿需符合出版规范。以下是具体要求:

Font and Size

  • 正文:Times New Roman,10号字,单倍行距。
  • 一级标题:粗体,11号字,首字母大写
  • 二级标题:粗体,10号字,首字母大写
  • 图表标题:粗体,8号字

Page Layout

  • 使用 A4或Letter纸张,双栏排版。
  • 页边距:上2.5厘米,下1.9厘米,左右1.6厘米
  • 行距:单倍行距,段前段后0点间距。

Figure and Table Format

  • 图表嵌入正文,初稿为PDF,修订稿需单独上传高分辨率文件。
  • 图表标题置于下方,Times New Roman,8号字,居中
  • 图表文字:8号字,确保清晰。
  • 图表分辨率:至少300 DPI,推荐格式为TIFF、EPS或高分辨率JPEG
  • 颜色选择:支持彩色,建议高对比度(如蓝/黄),避免红绿。
  • 图例:每幅图说明不超过300字,置于图下方。
  • 版权:需获得受版权保护的图表许可,提交许可文件。
  • 示例:
    Figure 1: HEMT performance.
    a Efficiency vs. power (blue: GaN; red: baseline). b Switching loss.

Equations and Terminology

  • 公式居中,右对齐编号,如 (1),文中称为“equation (1)”。
  • 术语遵循IEEE及器件标准(如“breakdown voltage”而非 “failure voltage”)。
  • 示例:
    (1) I = V/R + q·n·v

表格

  • 表格嵌入正文,包含标题和图例,置于页面顶部或底部。
  • 大型表格作为补充材料(如Excel)。

参考文献

《TED》要求使用IEEE引用风格,按文中出现顺序编号,文中以方括号引用(如 [1])。参考文献需准确,优先引用期刊文章。以下是示例:

  • Journal Article:
    [1] R. Patel, S. Kim, et al., “GaN power devices,” IEEE Trans. Electron Devices, vol. 71, no. 8, pp. 123-134, Aug. 2024.
  • Conference Paper:
    [2] E. Liu and J. Carter, “GaN HEMT design,” in Proc. IEEE Int. Electron Devices Meeting, San Francisco, CA, USA, Dec. 2024, pp. 10-11.
  • Book:
    [3] S. Sze, Physics of Semiconductor Devices, 4th ed., Hoboken, NJ, USA: Wiley, 2021.
  • Dataset:
    [4] E. Liu and A. Schmidt, “HEMT dataset,” Zenodo, 2024. [Online]. Available: https://doi.org/10.5281/zenodo.123456
  • Preprint:
    [5] J. Carter and A. Schmidt, “Device advances,” arXiv:2401.12345, Jan. 2024. [Online]. Available: https://arxiv.org/abs/2401.12345

伦理要求

  • Conflict of Interest: 需声明所有作者的利益冲突(如“无利益冲突”)。
  • Ethical Compliance: 涉及人类或动物实验的需提供伦理委员会批准编号,遵循《赫尔辛基宣言》或动物伦理指南。
  • Data Availability: 需声明数据存储库及访问方式。
  • Code Availability: 需提供代码存储库或补充材料。
  • 示例:
    Competing interests: The authors declare no competing interests.
    Ethics approval: Not applicable.
    Data availability: Data at Zenodo: https://doi.org/10.5281/zenodo.123456.
    Code availability: Code at GitHub: https://github.com/GaNHEMT.

补充材料

  • 补充材料作为单独文件提交,格式为PDF、Excel、MP4(H.264编码,16:9)或ZIP
  • 包含大型数据集、代码或视频,无额外费用。
  • 示例:
    Supplementary Video S1: Device test demo.
    Supplementary Data S1: Performance datasets.

投稿过程

作者需通过Manuscript Central提交论文。流程如下:

  • 注册并关联ORCID,指定通信作者(需符合IEEE作者标准)。
  • 上传IEEE模板稿件(PDF)、cover letter、图表(嵌入PDF)及补充材料。
  • 提供利益冲突声明数据/代码可用性声明伦理声明
  • 提交推荐审稿人(可选,3-5人,需提供姓名、邮箱及理由)。
  • 在Manuscript Central跟踪审稿状态,初审约8-12周。
  • 修订稿需提交:修改稿(Word/LaTeX)、审稿回复(逐点回应)、高分辨率图表。
  • 可联系编辑部(ted-eic@ieee.org)查询状态或申请APC减免(开放获取文章)。

最后

IEEE Transactions on Electron Devices作为电子器件领域的期刊,以其在器件设计、制造及应用的全面研究推动半导体技术的持续进步。

建议投稿前仔细核对官网投稿指南。

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